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专利名称：声噪声降低的磁共振检查系统专利类型：发明专利
发明人：P·W·P·林佩斯,N·B·罗赞申请号：CN200880105471.1申请日：20080901公开号：CN1017925A公开日：20100804
摘要：一种磁共振检查系统包括检查区域(1)、用于在检查区域中产生梯度磁场的梯度线圈(2)以及安置在梯度线圈和检查区域之间的盖体(3)。RF天线(4)安装在天线载体(5)上且安置在盖体和梯度线圈之间。盖体和天线载体的组合形成其间有缝隙的双层壁。盖体和天线载体共同位于梯度线圈和检查区域之间，并且有效地阻碍了声噪声从振动梯度线圈传播到检查区域中以及到磁共振检查系统的外部。
申请人：皇家飞利浦电子股份有限公司
地址：荷兰艾恩德霍芬
国籍：NL
代理机构：永新专利商标代理有限公司
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